超声检测考试题库：判断题3.31-3.40答案与解析

一、是非题（3.31-3.40题）

3.31  斜探头前部磨损较多时，探头的K 值将变大。

答案：×

解析：如下图所示：（1）当探头前部磨损时，入射角α1小于α，因此根据斯涅尔定律（snell定律），β1小于β，此时K值（K=tanβ1）减小；而当后部磨损时，入射角α2大于α，根据斯涅尔定律，β2大于β，此时K值（K=tanβ2）增大。（2）无论是探头前部磨损还是后部磨损，探头的入射点都会增大。

3.32  利用IIW试块上φ50mm孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围。

答案：√

解析：利用IIW试块，其直径为50mm的有机玻璃圆弧面至侧面间距分别为5mm和10mm，可以用来测定直探头与仪器组合的盲区。由于仅通过5mm和10mm的两个深度数据，可以大致判断该组合是否能分辨出这些距离的回波。若能分辨出10mm的回波，但不能分辨出5mm的回波，则该探头的盲区大约介于5mm到10mm之间。这种方法无法精确测量盲区的具体数值。

3.33  当斜探头对准IIW2试块上R50曲面时，荧光屏上的多次反射回波是等距离的。

答案：×

解析：如下图所示，对准R25和R50曲面时，荧光屏上的多次反射回波距离。

3.34  中心切槽的半圆试块，其反射特点是多次回波总是等距离出现。

答案：√

解析：如下图所示，中心未切槽和切槽时，荧光屏上的多次反射回波距离。

3.35  与IIW试块相比CSK-IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。

答案：√

解析：如下图所示，CSK-IA具有Φ40mm、Φ44mm和Φ50mm三个台阶孔，而IIW试块则仅有Φ50的直孔。可以利用CSK-IA的三个台阶孔来测定斜探头的分辨力。

3.36  调节检测仪的“水平”旋钮，将会改变仪器的水平线性。

答案：×

解析：“水平”旋钮也称“零点调节”旋钮，用于调节水平旋钮，可以使扫描线连扫描线上的回波一起左右移动一段距离，但不改变回波间距，不会改变仪器的水平线性。

3.37  测定仪器的“动态范围”时，应将仪器的“抑制”、“深度补偿”旋钮置于“关”的位置。

答案：√

解析：“抑制”会改变仪器垂直线性和动态范围，抑制作用越大，移动动态范围越小；“深度补偿”作用是改变放大器的性能，使位于不同深度的相同尺寸缺陷的回波高度差异减小，类似于相控阵TCG曲线。因此，测定仪器的“动态范围”时，应将仪器的“抑制”、“深度补偿”旋钮置于“关”的位置。

3.38  盲区与始波宽度是同一概念。

答案：×

解析：（1）盲区是指检测面能够识别缺陷的最近距离，即无法检测到缺陷的区域，用“盲”来表示。始波宽度则是指超声波起始脉冲的宽度。虽然这两个概念不同，但盲区的大小与仪器的阻塞时间和始脉冲宽度密切相关。例如，在使用直探头检测时，如果缺陷距离检测面非常近，并且小于始脉冲宽度，由于阻塞效应，这些缺陷将无法被有效识别，这种情况就被称为盲区。另外，直探头和斜探头的盲区定义是不同的。

（2）误区：许多人错误地认为近场区就是盲区，这种理解是不正确的。实际上，即使缺陷位于近场区，仍有可能会被检测出来，只是其波幅变化不规律而已。而如果缺陷位于盲区范围内，则完全无法被检测到。例如，在相控阵超声检测中，只有在近场区范围内才能实现聚焦，此时聚焦作用能够提高检测缺陷的灵敏度和分辨力。

3.39  测定组合灵敏度时，可先调节仪器的“抑制”旋钮，使电噪声电平≤10%，再进行测试。

答案：×

解析：仪器和探头的灵敏度常用灵敏度余量来衡量，灵敏度余量是指仪器最大输出时（增益、放射强度最大，衰减和抑制为零），使规则反射体回波达到基准高所需衰减的衰减总量。因此，测定组合灵敏度时，应将“抑制”调为0，调节电平噪声电平≤10%。

3.40  测定“始波宽度”时，应将仪器的灵敏度调至最大。

答案：×

解析：按规定调好灵敏度并调至标准“0”点，示波屏上始脉冲达到20%高处至水平刻度“0”点的距离。

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