超声检测考试题库：判断题3.21-3.30答案与解析-曹智的无损检测博客

一、是非题（3.21-3.30题）

3.21 调节检测仪“延迟”旋钮时，扫描线上回波信号间的距离也将随之改变。

答案：×

解析：（1）“延迟”旋钮，又称为“脉冲移位”旋钮，用于调节开始发射脉冲时刻与开始扫描时刻之间的时间差。调节延迟旋钮可以使扫描线上的回波最大幅度左右移动，不能改变回波之间的距离。（2）“调节深度范围”旋钮，可较大幅度地改变扫描线的扫描速度，从而使荧光屏上回波间距大幅度的压缩或扩展。

3.22 不同压电晶体材料中声速不一样，因此不同压电材料的频率常数也不相同。

答案：√

解析：频率常数N，压电晶片在高频电脉冲激励下产生共振的条件。根据公式可知，不同压电晶体材料中声速CL（晶片中的纵波声速）不同，频率常数N也不同。

3.23 不同压电材料的频率常数不一样，因此用不同压电材料制作的探头其标称频率不可能相同。

答案：×

解析：根据上述频率常数N计算公式可知，不同压电材料的频率不同，可以通过改变晶片厚度t，获得所相同的频率fo。

3.24 压电晶片的压电应变常数 (d33) 大，则说明该晶片接收性能好。

答案：×

解析：d33是衡量压电晶片材料发射性能的重要参数，d33越大，发射性能越好，发射灵敏度越高。

3.25 压电晶片的压电电压常数 (g33) 大，则说明该晶片接收性能好。

答案：√

解析：g33是衡量压电晶片材料接收性能的重要参数，g33越大，接收性能越好，接收灵敏度越高。

3.26 探头中压电晶片背面加吸收块是为了提高机械品质因子θm，减少机械能损耗。

答案：×

解析：背面添加吸收块的作用主要有三点：一是帮助晶片在起振后迅速停止，二是吸收晶片向背面发射板发出的超声波，三是提供支撑作用。因此，背面吸收块的效果体现在缩短晶片的持续振动时间，减少脉冲宽度，从而提高分辨力，即降低θm并增加机械能的损耗。

3.27 工件表面比较粗糙时，为防止探头磨损和保护晶片，宜选用硬保护膜。

答案：×

解析：保护膜分硬和软，粗糙表面用硬质保护膜，光滑表面用软质保护膜。保护膜会使始波宽度增加，分辨力变差，灵敏度降低。硬保护膜比软保护膜更严重。

3.28 斜探头楔块前部和上部开消声槽的目的是使声波反射回晶片处，减少声能损失。

答案：×

解析：斜探头楔块前部和上部开消声槽的目的是使反射波进入牛角或消声槽不返回晶片，从而减少杂波。

3.29 由于水中只能传播纵波，所以水浸探头只能进行纵波检测。

答案：×

解析：水中只能传播纵波的说法是正确的。然而，可以通过水浸法将入射于水中的纵波以一定角度传递至工件，促使波形发生转换，使纵波变为横波，从而实现水浸探头对横波的检测。

3.30 双晶直探头倾角越大，焦点离检测面距离愈远，覆盖区愈大。

答案：×

解析：如图所示，双晶直探头倾角αI越大，聚焦区域越小，焦点离检测面距离愈近，覆盖区愈小。

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